X荧光硅铝分析仪  X射线测定仪
X荧光硅铝分析仪 性能特点：
1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。
2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。
3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。
4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。
5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。
6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。
7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。
8、可与配料系统联网，实现自动控制。
 
X荧光硅铝分析仪 技术指标：
1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100% 
2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%
3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。
4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。
5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度<85%（30℃）。
6、整机功耗: <30W 
7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm 
8、整机重量：13.8kg

X荧光硅铝分析仪  X射线测定仪

X荧光钙铁分析仪选用X射线管作激发光源，X射线管产生的射线激发样品，样品中元素的k层电子被击出，形成空穴，原子处于激发状态，随后，外层电子立即填充k层电子空穴而产生电子跃迁，电子跃迁时释放能量，发射各荧光元素的特征X射线(即X荧光)。